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量規(guī)使用簡介怎樣使用量規(guī)？小彎曲半徑定義為：軟管工作時在不受損傷或不明顯降低壽的小的彎轉(zhuǎn)半徑。應(yīng)工作中的軟管的彎曲半徑以得當(dāng)?shù)氖褂媚z管。軟管彎曲半徑應(yīng)該彎曲部分的內(nèi)面，如下所示：的小彎曲半徑可在軟管資料中或格表中查找，對沒有列出的小彎曲半徑，請查詢客戶服務(wù)手冊。量規(guī)上有什么量規(guī)上畫有所有尺寸的小彎曲半徑。怎樣使用量規(guī)要決定彎曲半徑的大小，請將量規(guī)放在軟管彎曲部分的內(nèi)側(cè)，找到吻合配合曲線，然后讀數(shù)。如果內(nèi)面彎曲半徑?jīng)]有，您可以使用外部彎曲半徑，但是您須將測得的數(shù)據(jù)減去軟管的外徑。量規(guī)的副本...

5-14 2015
光柵尺接數(shù)顯表使用時注意事項1.光柵尺傳感器與數(shù)顯表插頭座插拔時應(yīng)關(guān)閉電源后進(jìn)行。2.盡可能外加保護(hù)罩，及時清理濺落在尺上的切削和油液，嚴(yán)格防止何異物進(jìn)入殼體內(nèi)部。3.定期檢查各連接螺絲是否松動。4.為延長防塵密封條的壽，可在密封條上均勻涂上薄層硅油，注意勿濺落在玻璃光柵刻劃面上。5.為光柵尺傳感器使用的可靠性，可每隔定時間用乙醇混合液（各50%）清洗擦拭光柵尺面及指示光柵面，保持玻璃光柵尺面清潔。6.光柵尺傳感器嚴(yán)禁劇烈震動及摔打，以免破壞光柵尺，如光柵尺斷裂，光柵尺傳感器即失了。7.不要自行拆開光柵...

5-7 2015
涂層測厚儀電渦流測量原理磁吸力測量原理*磁鐵（測頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系，這個距離是覆層的厚度。利用這原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛大于吸力，磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動完成這記錄過程。不同的型號有不同的量程...

4-27 2015
磁吸力測量原理及測厚儀對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量的重要環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法...

4-13 2015
影響涂層測厚儀測量因素簡析1、基體金屬磁性磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為時輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。2、基體金屬厚度每種儀器都有個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量不受基體厚度的影響。3、邊緣應(yīng)本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。4、曲率試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面...

3-30 2015
比色計和色差儀的區(qū)別比色計原理：當(dāng)單色光通過厚度相同，而濃度很小的溶液時，根據(jù)朗伯—比爾定律，光被溶液吸收的程度，稱為吸收度，與溶液的濃度成正比，與溶液的厚度成正比，即A=εCL，式中：A為吸收度，C為溶液的濃度，L為溶液的厚度，ε為消光系數(shù)。由朗伯—比爾定律得，當(dāng)束單色光通過溶液時，由于溶液吸收部分光能，使光的度減弱。若溶液的濃度（或厚度）不變，則溶液的厚度（濃度）愈大，光線度的減弱也愈明顯常用的比色法有兩種：目視比色法和光電比色法，前者用眼睛觀察，后者用光電比色計測量，兩種方法都是以朗伯-比...

3-26 2015
原變*為Magnescale.Co;Ltd 告知書致廣大客戶告知書尊敬的客戶朋友現(xiàn)告知：從2010年4月1日起，原SonyManufacturingSystemsCorporation,現(xiàn)*名為Magnescale.Co;Ltd。以上，請知悉謝謝蘇州量子儀器有限公司2010年4月

6-3 2014
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8-23 2013

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